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沖擊試樣缺口投影儀
CST-50沖擊試樣缺口投影儀
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,
品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。
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